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2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 主要特性
Fluke1535功能如下:
絕緣測量量程高達500GΩ;
具備快速測量設計,絕緣阻值會較快達到穩定讀數,工作快人*!
具備自動計算的極化指數(PI)/介電吸收比(DAR)功能/介質放電率(DD)功能**
低功耗設計滿足高強度工作需求:2500V測量次數高達1300次,250V測量可達6500次*;
具備高安全性設計,具有危險電壓報警功能,符合CAT IV 600V標準及電力行業規范DLT845;
全新高可靠性設計,包括50°C高溫和80%濕度環境下,依舊保持對應的電氣規格,表筆及對應端口通過30000次插拔實驗。
*基于Fluke內部實驗室測量
Fluke1537除具備上述特點外,還具有以下功能:
交流電壓/直流電壓/電阻測量
可微調的測試電壓:250 V至2500 V,調節幅度為100 V
介質放電(DD)
線性增加(100 V/s)應用測試電壓的步進模式
用戶自定義標簽,*測試,測量結果保存
擊穿電壓指示
用于下載測試數據的Mini USB接口
PC軟件
2500V絕緣電阻測試儀Fluke1535/1537 產品規格:
通用技術指標  | |
顯示屏  | 73.5 mm x 104 mm  | 
電池  | 8節IEC LR6 AA堿性電池  | 
外形尺寸(高x寬x長)  | 184x211x93(mm)  | 
重量  | 1.3 kg  | 
溫度  | 
  | 
工作溫度  | -10 °C至+50 °C  | 
存放溫度  | -20 °C至+60 °C  | 
工作濕度  | 無冷凝(<10 °C)  | 
  | ≤80 %相對濕度(10 °C至30 °C)  | 
  | ≤50 %相對濕度(30 °C至50 °C)  | 
海拔  | 
  | 
工作海拔  | 2000 m  | 
存放海拔  | 12000 m  | 
過電壓類別  | CAT IV 600 V  | 
安全性  | 
  | 
通用  | IEC 61010-1,污染等級2  | 
  | IEC 61010-2-033:CAT IV 600 V  | 
  | IEC 61557-1  | 
絕緣電阻測量  | IEC 61557-2  | 
保護措施有效性  | IEC 61557-16  | 
防護(IP)等級  | IEC 60529 IP40  | 
電磁兼容性(EMC)  | 
  | 
IEC 61326-1:便攜式電磁環境  | |
  | IEC 61326-2-2 CISPR 11:第1組,A類  | 
第1組:設備內部產生和/或使用與傳導相關的無線電頻率能量,該能量對于設備自身的內部功能*。
A類:設備適用于非家庭使用以及未直接連接到為住宅建筑物供電的低電壓網絡的任意設備中。由于傳導干擾和輻射干擾,在其他環境中可能難以保證電磁兼容性。
小心:此設備不可用于住宅環境,且在此類環境中可能無法提供充分的無線電接收保護。
電氣技術指標  | |||
測試儀經校準后在10 °C至30 °C的工作溫度條件下其度可以維持1年。在工作溫度范圍以外(-10 °C至+10°C和+30 °C至+50 °C),波動變化為5 %時每攝氏度增加±0.25 %,波動變化為20 %時每攝氏度增加±1 %。  | |||
絕緣電阻測試  | |||
測試電壓  | 量程  | 分辨率  | 準確度  | 
250 V  | <200 kΩ  | 未  | 未  | 
200 kΩ至500 kΩ  | 1 kΩ  | 0.05  | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ  | 10 kΩ  | 0.05  | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ  | 100 kΩ  | 0.05  | |
50 MΩ至500 MΩ  | 1 MΩ  | 0.05  | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ  | 10 MΩ  | 0.05  | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ  | 500 MΩ  | 0.2  | |
>50 GΩ  | 未  | 未  | |
500 V  | <200 kΩ  | 未  | 未  | 
200 kΩ至500 kΩ  | 1 kΩ  | 0.05  | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ  | 10 kΩ  | 0.05  | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ  | 100 kΩ  | 0.05  | |
50 MΩ至500 MΩ  | 1 MΩ  | 0.05  | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ  | 10 MΩ  | 0.05  | |
5.0 GΩ至10.0 GΩ  | 100 MΩ  | 0.05  | |
10.0 GΩ至50.0 GΩ  | 500 MΩ  | 0.2  | |
50 GΩ至100 GΩ  | 5 GΩ  | 0.2  | |
>100 GΩ  | 未  | 未  | |
1000 V  | <200 kΩ  | 未  | 未  | 
200 kΩ至500 kΩ  | 1 kΩ  | 0.05  | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ  | 10 kΩ  | 0.05  | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ  | 100 kΩ  | 0.05  | |
50 MΩ至500 MΩ  | 1 MΩ  | 0.05  | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ  | 10 MΩ  | 0.05  | |
5.0 GΩ至20.0 GΩ  | 100 MΩ  | 0.05  | |
20.0 GΩ至50.0 GΩ  | 500 MΩ  | 0.2  | |
50 GΩ至200 GΩ  | 5 GΩ  | 0.2  | |
>200 GΩ  | 未  | 未  | |
2500 V  | <200 kΩ  | 未  | 未  | 
200 kΩ至500 kΩ  | 1 kΩ  | 0.05  | |
0.50 MΩ至5.00 MΩ  | 10 kΩ  | 0.05  | |
5.0 MΩ至50.0 MΩ  | 100 kΩ  | 0.05  | |
50 MΩ至500 MΩ  | 1 MΩ  | 0.05  | |
0.50 GΩ至5.00 GΩ  | 10 MΩ  | 0.05  | |
5.0 GΩ至50.0 GΩ  | 100 MΩ  | 0.05  | |
50 GΩ至500 GΩ  | 5 GΩ  | 0.2  | |
>500 GΩ  | 未  | 未  | |
長條圖量程:0 Ω至500GΩ絕緣測試電壓度:-0 %,在1 mA電流時為+10 %電容載荷充電率:5 s/μF電容載荷放電率:1.5 s/μF
標準配置:

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